Svepelektronmikroskop (SEM/EDS)

SEM ger ett stort skärpedjup vilket gör det möjligt att studera ytor med kraftig topografi, såsom brottytor. Den större skillnaden mellan ett SEM och ett optiskt mikroskop är att ett SEM använder sig av elektroner istället för ljus.

Vi utför exempelvis analys av en partikel, beläggning, korrosionsprodukt eller asbestfibrer med hjälp av den energidispersiva röntgenspektrometern (EDS/EDX).

Vi utför undersökning och analys av:

• Asbest (dammprov, luftprov och vattenprov)
• Beläggningar
• Brottytor
• Faser i mikrostruktur (bland annat spröda faser)
• Färg (exempelvis bly, koppar)
• Fördelning av ingående element (X-ray mapping)
• Korrosionsprodukter
• Materialidentifikation (metallpartiklar, pulver, etc.)
• Miljöprover (exempelvis tungmetaller)
• Slagginneslutningar i makro- och mikroprov
• Sprickor
• Ytskikt 

Med vårt instrument kan analyser utföras i både hög- och lågvakuum. Om undersökning utförs i högvakuum måste provet vara elektriskt ledande. I de fall provet inte är ledande kan det beläggas med ett ledande skikt med guld alternativt kol. I lågvakuum kan i stort sett alla prov undersökas och analyseras.

Med hjälp av en linjeanalys kan vi påvisa variationer av den kemiska sammansättningen över en vald linje, vilket fördelaktigt kan användas för att analysera ytskikt. Vi kan även utföra en kartläggning, så kallad mapping, över de ingående grundämnena och visar dess fördelning samt koncentration. Resultaten för ovanstående analyser kan redovisas som spektrum, i tabellform, grafiskt samt i bildformat.